请教高手一个关于测试的问题顺便散分...
Wafer Test时Teradyne的j750产生的STDF档数据结构是怎么个组成法？

初测时STDF档数据结构，和复测后的STDF档数据结构不太一样，
我写的工具程式是根据国际标准定义设计的，但是各家厂商会依
据需求，修改每段数据内资料型态或格式，我透过转成ATDF后可
以约略知道测试内容，但是要使用ATDF内资料，回头将原J750产
生的STDF档做其他功能项目开发，难度有点高，不知道有人有经
验，或知道要去哪找资料的吗？若有FLEX或D10的也行。

虽然这是VC6的开发项目放在这不大好，但是我只是想知道去哪找相关资料而已。

我不服～为什么韩国人写得出来～我写不出来～
算了～还是来去看电视了～放空一下～