以下是引用吹水佬在2018-10-13 20:15:40的发言:
给文件看看(随便几行)
这是关于半导体测试的资料分析,光给范例可能会一头雾水,稍微说一下
1.log(一份32000行*N份)(32000=硬体内存一次输出最大量资料)
Use->0~1023通道依序排列有用到的硬体通道为1
0=->0~1023通道依序排列有错误的硬体通道为非0
....
32000=->0~1023通道依序排列有错误的硬体通道为非0
2.log(一份32000行*N)
排列有用到的軟体通道名称(軟体通道名称)
_
排列有用到的硬体通道号码(与軟体通道名称对应)(硬体通道号码1)
XXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXLXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXH(根据1.log的硬体通道号码取出错误的符号)
3.log
0=PIN0000,2,832,1,192,129,False,False,False,False
(index=軟体通道名称,Type,硬体通道号码1,硬体通道号码2,硬体通道号码3,硬体通道号码4,(后面在此case无用忽略...)
(2.log档案仅显示硬体通道号码1,但需从1对照3推算2)=>最后得出各軟体通道名称+硬体通道号码的错误的符号
应该不容易看懂,重点是1.log和2.log的资料对照效率问题,其他不懂没差
我无意中才发现我变VB版主了,1票也能当
[此贴子已经被作者于2018-10-15 12:09编辑过]