U盘测试
描述 你知道吗?一个质检及格的U盘从10层楼高处自由落体到地并不会带来任何数据损失!而一个质检及格的ACM牌U盘,采用北航最尖端的RP材料技术,结构上符合RP守恒定律,从100层高楼自由落体到地可以毫发无伤!
这天,突然来了一位火星人,他说想在火星上测试一下这种ACM牌U盘是否能通过H层高楼的自由落体测试,你需要具体测出在哪一层U盘会摔坏(即在第P层测试会摔坏,在P-1层不会坏,或者在楼顶摔也不会坏)。
实验总是有风险的,摔坏的U盘不能再参加测试,可惜这种U盘太畅销了,你只能带有限的N个U盘去火星测试。所以你需要知道在H和N确定的情况下,制定一套方案,宁可把这N个U盘砸坏,也要找到一个最小的次数K,使得无论U盘质量如何,总可以在K次实验后完成测试。
输入
输入文件有多组数据。
每组数据只有一行,即两个正整数N和H(1≤N≤15, 1≤H≤1000)。
输入以0 0结束。
输出
对每组数据,只需输出一行,为最少的次数K。
样例输入
1 2
3 7
4 15
4 16
0 0
样例输出
2
3
4
5